CT4447高電壓微分探針

Cal Test Electronics CT 4447高電壓微分探針提供高達30MHz的頻寬、±2%增益精度及高達1400V的微分額定電壓。這些探針設計用於讓接地的示波器器在兩個點之間實現安全、精確的浮動測量。CT4447系列探針將浮動訊號轉換為在任何接地參考示波器上安全顯示的低電壓接地參考訊號。Cal Test Electronics CT 4447高電壓微分探針與所有主要製造商的示波器相容,是精密功率半導體、浮動測量、可切換電源設計和功率轉換器測量的理想選擇。

結果: 2
選擇 圖像 零件編號 製造商 說明 規格書 供貨情況 定價 (TWD) 基於數量按單價篩選表中結果。 數量 RoHS 設備類型 類型 帶寬 尖頭式樣 長度 色彩 額定電壓 额定电流
Cal Test 測試探頭 Differential Probe Kit, 30MHz, 1.4kV, 20x/200x, cTUVus List 5庫存量
10預期2026/4/14
最少: 1
倍數: 1

Differential Probe Differential Probe 30 MHz Various 200 mm Black 100 VAC to 240 VAC 350 mA
Cal Test 測試探頭 Differential Probe Kit, 30MHz, 700V, 10x/100x, cTUVus List 4庫存量
7預期2026/5/26
最少: 1
倍數: 1

Differential Probe Differential Probe 30 MHz Various 200 mm Black 100 VAC to 240 VAC 350 mA