500 mA 測試及測量

測試及測量的類型
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 製造商
說明 規格書 供貨情況 定價 (TWD) 基於數量按單價篩選表中結果。
數量 RoHS
ADLINK Technology 資料記錄及獲取 48BIT Digital I/O CARD
規格書
7庫存量
最少： 1
倍數： 1


Smiths Interconnect / IDI 接觸探頭 QUAD RADIUS TIP W/ PREATTCH WIRE
規格書
48庫存量
50預期2026/9/10
最少： 1
倍數： 1

Smiths Interconnect / IDI 接觸探頭 SPRING CONTACT PROBE 60DEG SPEAR W/O WIR
規格書
214庫存量
最少： 1
倍數： 1



Smiths Interconnect / IDI 接觸探頭 3庫存量
最少： 1
倍數： 1

Smiths Interconnect / IDI 接觸探頭 SPRING CONTACT PROBE RADIUS W/O WIRE
規格書
128庫存量
1,000預期2026/10/29
最少： 1
倍數： 1

Smiths Interconnect / IDI 接觸探頭 QUAD RECEPTACLE 100484-001-36-8
規格書
75庫存量
最少： 1
倍數： 1

Smiths Interconnect / IDI 接觸探頭 RECEPTACLE W/FLNG WO/WIRE AU PLTD
規格書
6庫存量
140在途量
最少： 1
倍數： 1

Smiths Interconnect / IDI 接觸探頭 RECEPTACLE W/FLNG 12 WIRE
規格書
11庫存量
20預期2026/8/25
最少： 1
倍數： 1

Smiths Interconnect / IDI 接觸探頭 RECEPTACLE
規格書
21庫存量
最少： 1
倍數： 1

ADLINK Technology 資料記錄及獲取 64 CH ISOLATED DIGITAL IN
規格書
2庫存量
最少： 1
倍數： 1

Pomona Electronics 測試夾 SMD GRABBER TEST CLI P, BLACK
規格書
1,293庫存量
540預期2026/9/8
最少： 1
倍數： 1

Pomona Electronics 試鉛 SMD GRABBER TEST
規格書
116庫存量
最少： 1
倍數： 1

Digilent 資料記錄及獲取 USB-1608FS-Plus DAQ; 8 SE Inputes; 16b; 100kS/s
規格書
17庫存量
最少： 1
倍數： 1

Pomona Electronics 測試夾 SMD GRABBER TEST CLIP, RED
規格書
34庫存量
最少： 1
倍數： 1

Pomona Electronics 試鉛 24IN SMD GRBR RED
規格書
10庫存量
最少： 1
倍數： 1

Pomona Electronics 試鉛 SMD GRABBER TEST
規格書
16庫存量
最少： 1
倍數： 1

Pomona Electronics 測試夾 SMD GRABBER TEST
規格書
21庫存量
最少： 1
倍數： 1

Pomona Electronics 測試夾 SMD GRABBER TEST
規格書
9庫存量
最少： 1
倍數： 1

Pomona Electronics 測試夾 SMD GRABBERTEST CL
規格書
8庫存量
最少： 1
倍數： 1

Pomona Electronics 試鉛 SMD GRABBERTEST CL
規格書
7庫存量
最少： 1
倍數： 1

Cal Test 測試探頭 DMM Electrical Kit w/Fused Probes
規格書
2庫存量
最少： 1
倍數： 1

Keysight 34941A
Keysight 資料記錄及獲取 Quad 1x4 50 Ohm Multiplexer Module for 34980A
規格書
8在途量
最少： 1
倍數： 1

Smiths Interconnect / IDI 接觸探頭 QUAD TIP W/ PREATTCH WIRE
規格書
19預期2026/9/17
最少： 1
倍數： 1

Pomona Electronics 試鉛 24IN SMD GRBR BLK
規格書
無庫存前置作業時間 4 週
最少： 1
倍數： 1

Fluke 測試探頭 FUSED TEST PROBE SET
規格書