Analog Devices Inc. ADMX2001B阻抗分析儀測量模組
Analog Devices Inc. ADMX2001B精密阻抗分析儀測量模組簡化了阻抗測量系統的開發，還可用於提升現有測試平台的能力。ADMX2001B模組採用高性能混合信號及處理演算法，可測量低至0.1fF的電容和高達1GΩ的阻值變化，通常用來測試半導體、電子元件和感測器。此外，內建測量演算法使Analog Devices Inc. ADMX2001B能夠以各種格式，包括電阻、電容和電感的並聯和串聯組合，提供完全校準的複合阻抗或導納測量結果。
特點
- 測量從0.2Hz到10MHz的複合阻抗
- 高通量
- 2.7ms測量時間
- 0.05%基本相對精度
- 廣泛的測量範圍
- 電阻從100μΩ至1GΩ
- 電容從100aF至10F
- 電感從10pH至100H
- 可程式測試信號
- 16位元振幅調整可達2.4V
- 解析度為0.2Hz
- 16位元DC偏置設定高達±2.4V
- DC阻抗測量
- 18種阻抗測量格式用於C、R、L、Z和Y
- 自動化多點和參數掃描
- 校準和夾具補償功能
- 自動校準程序確保測量可追溯性
- 校準係數存儲於非揮發性記憶體中
- 補償可消除夾具寄生效應
應用
- 自動化測試設備
- 半導體特性分析
- 晶圓驗收測試
- 電阻抗光譜法
- 阻抗網路分析
- 電池測試
板配置
相關解決方案
Analog Devices Inc. Instrumentation Solutions
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發佈日期: 2023-12-06
| 更新日期: 2025-03-04