Cal Test Electronics CT4447高電壓微分探針

Cal Test Electronics CT 4447高電壓微分探針提供高達30MHz的頻寬、±2%增益精度及高達1400V的微分額定電壓。這些探針設計用於讓接地的示波器器在兩個點之間實現安全、精確的浮動測量。CT4447系列探針將浮動訊號轉換為在任何接地參考示波器上安全顯示的低電壓接地參考訊號。Cal Test Electronics CT 4447高電壓微分探針與所有主要製造商的示波器相容，是精密功率半導體、浮動測量、可切換電源設計和功率轉換器測量的理想選擇。